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解析ソフトウェア開発

解析ソフトウェアの受託開発を行っています

シンクランド株式会社では解析ソフトウェアの受託開発を行っています。

下図はOCT計測結果から穴形状を抽出した結果で、正確に穴深さを計測する事が出来ます。

その他にも、

・薄膜の立体的な厚み解析

・機械学習を用いた画像識別によるキズ判別

・インラインでのOCTを用いた厚み測定

・生体のOCT像を用いた解析

など、お客様に合わせたソフトウェアの開発実績があります。


 

Contents



 

OCT images of laser processed samples












Sapphire

Copper

Silica

Aluminum

Brass





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